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X射线衍射仪的基本构造

以下是朗铎科技为您一起分享的内容，朗铎科技***生产X射线衍射仪，欢迎新老客户莅临。

(1) 高稳定度X射线源 提供测量所需的X射线， 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长， 调节阳极电压可控制X射线源的强度。

(2) 样品及样品位置取向的调整机构系统 样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。

(3) 射线检测器 检测衍射强度或同时检测衍射方向， 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。

(4) 衍射图的处理分析系统 现代X射线衍射仪都附带安装有专用衍射图处理分析软件的计算机系统， 它们的特点是自动化和智能化。

X射线衍射仪在微观应力的测定中的应用

微观应力是指由于形变、相变、多相物质的膨胀等因素引起的存在于材料内各晶粒之间或晶粒之中的微区应力。当一束X射线入射到具有微观应力的样品上时，由于微观区域应力取向不同，XRD报价，各晶粒的晶面间距产生了不同的应变，单晶XRD报价，即在某些晶粒中晶面间距扩张，而在另一些晶粒中晶面间距压缩，结果使其衍射线并不像宏观内应力所影响的那样单一地向某一方向位移，单晶XRD报价，而是在各方向上都平均地作了一些位移，总的效应是导致衍射线漫散宽化。材料的微观残余应力是引起衍射线线形宽化的主要原因，因此衍射线的半高宽即衍射线强度一半处的宽度是描述微观残余应力的基本参数。

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X射线衍射仪的原理

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x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近，晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即一束X射线照射到物体上时，受到物体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。分析衍射结果，便可获得晶体结构。以上是1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)提出的一个重要科学预见，便捷式XRD报价，随即被实验所证实。1913年，英国物理学家布拉格父子(W.H.Bragg，W.L.Bragg)在劳厄发现的基础上，不仅成功的测定了N***，KCl等晶体结构，还提出了作为晶体衍射基础的公式--布拉格方程:2dsinθ=nλ。